赫爾納供應荷蘭IBS 高速干涉儀ARINNA 硬度儀

赫爾納供應荷蘭IBS 高速干涉儀ARINNA

供應荷蘭IBS 高速干涉儀ARINNA，貨期短，支持選型，為您提供一對一解決方案，在中國設有8個辦事處，可為您提供售前、售中和售后服務。

荷蘭IBS 介紹：

1993 年，Henny Spaan 在荷蘭埃因霍溫創(chuàng)立了一家小型精密工程公司，肩負著一項重大使命：開發(fā)測量解決方案，使公司和研究機構能夠實現(xiàn)其苛刻的機器和流程所需的精度。

2010 年，IBS Precision Engineering 負責開發(fā) ISARA 400，被為世界上精確的三坐標測量機之一。ISARA 400 具有 11 nm 的可溯源測量不確定度，并參與了由 NMI多項循環(huán)測試，為自由形式測量設定了標準。
IBS 目前正在開發(fā)下一代機器，用于測量半導體行業(yè)的鏡子，精度可達十分之一皮米。2010 年，IBS Precision Engineering 負責開發(fā) ISARA 400，精確的三坐標測量機之一。I

赫爾納供應荷蘭IBS 高速干涉儀ARINNA 

荷蘭IBS 高速干涉儀ARINNA特點：

當您需要在生產(chǎn)中對微米和納米范圍內(nèi)的表面特征進行質(zhì)量控制時，干涉測量法具有非接觸測量、高速和高精度等優(yōu)勢。即使是包含層次或自由形式的測量對象，您也可以通過干涉測量法獲得您需要的數(shù)據(jù)。

1 秒內(nèi)自動在線測量。

特征提取。

用戶可選擇樣本、趨勢圖和公差設置。質(zhì)量報告。

用于工業(yè) 4.0 集成的 TCP-IP 通信。

用于 X、Y 和 Z 定位的可選工作臺。

用于卷對卷應用的可選擺輥

荷蘭IBS 高速干涉儀ARINNA參數(shù)：

Z 范圍 (μm)96

每次捕獲的 FOV（毫米）2.8x2.8

Z分辨率（μm）0.002

結果時間（秒）1.5（0.9測量+0.6計算）

工作距離（毫米）34

可選舞者是的

可選的 x、y、z 階段是的

荷蘭IBS 高速干涉儀ARINNA應用：

結構化表面

電子產(chǎn)品

微流體

粒子檢查